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für Fenster- und Türanlagen Spannsysteme • Fensteranlagen mit Spannrahmen • Klapptüren für Türanlagen • Türanlagen mit Schiebeelementen - für 1- oder 2-flügelige Türen • Lichtschachtabdeckungen - einfache Reinigung, Edelstahl Rollosysteme • passend auch für Dachfenster • für 1- oder 2-flügelige Türen • flexibel nachzurüsten

Der NanoScan OP400 Nanopositionierungs-Piezo-Objektivscanner bietet die schnellste Schritt- und Einschwingzeit aller verfügbaren Objektivpositionierer. Er verfügt über kapazitive Rückkopplungssensoren und hat außerdem eine marktführende Positioniergenauigkeit und Auflösung. Das System ist mit den meisten Mikroskopen und Objektiven kompatibel und verfügt über, vom Benutzer konfigurierbare Einstellungen, die für verschiedene Objektivgrößen, Gewichte und Leistungsanforderungen optimiert sind. Der Benutzer wählt einfach die beste Einstellung für seine Anwendung aus. Eigenschaften: - Optischer Schnitt zur Erzeugung von 3D-Bildern - Autofokussysteme für Zeitrafferaufnahmen - Screening mit hohem Gehalt - Analyse der Oberfläche - Wafer-Prüfung - Abtastinterferometrie

Der NanoSensor® ist ein berührungsloses Positionsmesssystem, das auf dem Prinzip der Kapazitätsmikrometrie basiert. Zwei Sensorplatten, ein Target und eine Sonde, bilden einen Parallelplattenkondensator. Der Abstand dieser beiden Platten kann mit der entsprechenden elektronischen Steuerung gemessen werden, bis besser als 7pm, mit einem Bereich bis zu 1,25mm, einem Frequenzgang bis zu 10KHz und einer Linearität bis zu 0,02%. Da der NanoSensor eine berührungslose Methode ist, ist er frei von Hysterese. Am Messpunkt wird keine Leistung abgeleitet. Eigenschaften: - Sub-Nanometer-Positionsauflösung - Null-Hysterese - Linearitätsfehler bis hinunter zu 0,02 %. - Bandbreite bis zu 10 kHz - Konstruktion mit hoher thermischer Stabilität (Super-Invar, Zerdur und Keramikoptionen verfügbar) - UHV, Strahlung, Tieftemperatur, unmagnetisch usw. Varianten Anwendunsgbereiche: - Präzisions-Fertigung - Metrologie - Deformationsmessungen - Fleckenmessung (verwendet an Roboterarm und -hand der Raumstation) - Steuerung der Bühne - Materialprüfung - Mikroskopie - Aktive Optik - Präzisionsbalken-Lenkung

Positioniertisch mit linear Motor; Mikroskoptisch mit ausgezeichneter Repeatability; integrierte 50 nm Encoder; Versionen für verschiedene inverse Mikroskope erhältlich; OEM Version auf Anfrage; Controller VLD31XYZ empfohlen • Wiederholgenauigkeit: 0,15 µm • Minimale Schrittweite 0,05 µm • Metrische Genauigkeit 0,045 µm • Minimale Geschwindigkeit: 1 µm/sec • Maximale Geschwindigkeit: 300 mm/sec • Verfahrweg: 121 x 81 mm" Wiederholgenauigkeit: 0,15 µm Minimale Schrittweite: 0,05 µm Metrische Genauigkeit: 0,045 µm Minimale Geschwindigkeit: 1 µm/sec Maximale Geschwindigkeit: 300 mm/sec Verfahrweg: 121 x 81 mm